Die µm-Messung erfolgt nach dem Wirbelstromverfahren nach ISO 2360 und ASTM B244. HAI® kann daher µm-Messung nach anbieten ISO 7599, ISO 10074, DIN 17611, Qualanod und MIL-PRF-8625, Typ III.
Die µm-Messung nach dem Wirbelstromverfahren ist ein genormtes Verfahren zur Schichtdickenmessung auf NE-Metalloberflächen mit einem Wirbelstrommessgerät. Diese Methode ist nützlich, um zu überprüfen, ob eine Nichteisenmetalloberfläche in der gewünschten Dicke beschichtet ist, und um sicherzustellen, dass die Qualitätsanforderungen erfüllt werden.
µm steht für Mikrometer, was 1/1000 Millimeter zum Messen von Längen und Abständen ist, und unsere Messgeräte werden regelmäßig kalibriert, um eine hohe Genauigkeit unserer Messungen zu gewährleisten.